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可靠性及失效分析 |
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产品验证工作除了需要ATE测试以确定产品是否合乎SPEC的要求外，还需要进行针对产品长期使用质量的考察，以反映出一个产品生命周期有多长，或可以用多久的问题，这就需要进行一系列的可靠性（Reliability）分析。要知道产品的性能是否达到SPEC
的要求，在IC的设计和制造单位进行ATE测试就可解决。相比之下，一个产品能稳定使用多久?或者说今天产品在正常工作，明天是否也一定能正常工作？回答这样的问题非常困难；
同时，集成电路在研制、生产和使用中都会发生失效。此时还需进行失效分析，查明失效机理，以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数的不匹配，同时也帮助应用人员发现使用设计或操作不当等问题。验证测试重要的一点就在于对每个失效芯片分析引起故障的原因，以确定是制造过程的问题，还是设计或者测试本身的问题，甚至制定规范的问题。如此等等均需要制定科学的实验方案、使用专业的测试设备进行严格的测试分析。
现在，DEI与合作伙伴一起为客户提供可靠性及失效分析解决方案。DEI可以提供失效分析及可靠性测试需要的专业设备、专业器材，并且根据国际标准进行测试，提供给客户完备的测试报告。
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